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半导体激光器的结构与PIV特性介绍

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半导体激光器是半导体光电转换器件。如图1所示,半导体激光器由多层材料构成。自下而上包括背电极,衬底,下光限制层,下波导层,有源层,上波导层,上限制层,上电极。不同层

  半导体激光器是半导体光电转换器件。如图1所示,半导体激光器由多层材料构成。自下而上包括背电极,衬底,下光限制层,下波导层,有源层,上波导层,上限制层,上电极。不同层由不同的外延材料组成。

  2)光子横向限制,形成光波导的目的。外延完成的层状结构要经过刻蚀工艺,形成脊波导,在脊波导上制备接触电极。

  2)形成光子的侧向波导。制备完的圆片经过解理,镀膜,烧焊,压焊引线等工艺得到待测量的激光器,当向激光器电极注入电流时,激光器PN结两侧的电子和空穴大量的涌入有源区,在有源区电子空穴对复合,产生大量的光子,光子在波导的作用下沿轴方向传播,在激光器端面,反射光形成激射条件,透射光则为激光器输出的激光。

  这些特性决定了激光器的出光功率PO,功率转换效率ηP,工作寿命等性质。生产和科研过程中经常采用PIV测量方法获得这些重要参数。

  半导体激光器PIV特性即对激光器注入电流I时,激光器的出光功率P和激光器两极电压V的响应特性。与普通的PN结二极管等两端器件不同,半导体激光器PIV测试不仅要测量激光器的电压-电流(V-I)特性,重要的是同时完成激光器的功率-电流(P-I)特性的测试。因此,半导体激光器PIV测试系统包括精密电流源,电压表,功率计和负责控制、仪器间通讯、数据采集和处理的软件部分。传统的PIV测试系统由分立的电流源(集成有电压表),电流计和控制软件组成。电流源用于提供激光器注入电流和测量电压,电流计连接积分球用于测量激光器功率,电流源和电流计通过GPIB端口与软件联接,完成测量触发,数据传输等任务。

  2)系统的稳定性差,由GPIB端口连接的仪器间会出现数据传输阻塞的问题,系统容易瘫痪;

  3)系统的可控性差,测量速度、扫描点数,扫描方式不可根据测量要求进行调整。在大量的半导体激光器光电测试过程中,传统的PIV测试系统出现了效率低、可靠性、可控性差的问题。

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  ?? AHCT139器件是双路2线线解码器/解复用器,设计用于4.5 V至5.5 VV CC 操作。这些器件设计用于需要非常短的传播延迟时间的高性能存储器解码或数据路由应用。在高性能存储器系统中,这些解码器可用于最小化系统解码的影响。当与利用快速使能电路的高速存储器一起使用时,这些解码器的延迟时间和存储器的使能时间通常小于存储器的典型存取时间。这意味着解码器引入的有效系统延迟可以忽略不计。 低电平有效使能(G)\输入可用作多路分解应用中的数据线。这些解码器/解复用器具有完全缓冲的输入,每个输入仅代表其驱动电路的一个归一化负载。 特性 输入兼容TTL电压 专为高速存储器解码器和数据传输系统而设计 合并两个使能输入以简化级联和/或数据接收 每个JESD的闩锁性能超过250 mA 17 ESD保护超过JESD 22 2000-V人体模型(A114-A) 200-V机型(A115-A) 1000-V充电设备型号(C101) 参数 与其它产品相比 编码器和解码器   Function Technology Family VCC (Min) (V) VCC (Max) (V) Channels (#) Voltage (Nom) (V) F @ Nom Voltage (Max) (Mhz) I...

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